Програма на семинар с поканени външни лектори
18 – 20.04.2018
Сряда, 18 април
10:00-10:45 - Сотирис Сотиропулос - Scanning Electrochemical Microscopy (SECM): Brief Overview of the Technique and Application of its Surface Interrogation (SI -SECM) Variant in Probing Hydrogen Adsorption Affinity of Pt and Ir (abstract)
10:45 -11:00 – Кафе Пауза
11:00-11:45 - Сотирис Сотиропулос - Galvanic replacement processes in electrocatalysis and metal ion removal applications (abstract)
12:00-14:00 – Обяд
14:00-14:45 - Милен Гатешки - Introduction to X-Ray Diffraction. From Materials Research to Industrial Process Control (abstract)
14:45-15:00 – Кафе Пауза
15:00-15:45 - Милен Гатешки - X-Ray Scattering Studies of Nanocrystalline and Amorphous Materials Using High-Energy X-Rays on a Laboratory System (abstract)
Четвъртък, 19 април
10:00-10:45 - Илия Вълов - Materials and Processes for the Next Generation Non-volatile Memories, Neuromorphic Computing and Energy Conversion – първа част (abstract)
10:45-11:00 – Кафе пауза
11:00-11:45 – Илия Вълов - Materials and Processes for the Next Generation Non-volatile Memories, Neuromorphic Computing and Energy Conversion – втора част (abstract)
12:00-14:00 - Обяд
14:00-16:00 – Дискусия с участници в целевата група
Петък, 20 април
10:00-12:00 – Дискусия с участници в целевата група
Семинарът ще бъде проведен от 18.04.2018 до 20.04.2018 в сградата на ИФХ-БАН, 1113 София,
ул. "Акад.Г. Бончев", бл.11, 2 етаж, зала 225.
Проект BG05M2OP001-2.009-0023, финансиран от Оперативна програма „Наука и образование за интелигентен растеж“, съфинансирана от Европейския съюз чрез Европейските структурни и инвестиционни фондове.